✔ Физтех КФУ принял участие в международной конференции в Калифорнии - «Общество Крыма»
Диана 08-сен, 10:07 193 Новости АРК / Общество - Крыма.
Фото пресс-службы КФУ
Симферополь, 7 сентября. Крыминформ. Сотрудники Физико-технического института (ФТИ) Крымского федерального университета имени В.И. Вернадского приняли участие в международной конференции Optics + Photonics 2017, которая состоялась в Сан-Диего (штат Калифорния, США). Об этом сообщила пресс-служба КФУ со ссылкой на директора института Марину Глумову.
По ее информации, доцент кафедры общей физики и главный конструктор студенческого конструкторского бюро ФТИ Богдан Соколенко и доцент кафедры радиофизики и электроники, руководитель студенческого конструкторского бюро физико-технического института Дмитрий Полетаев выступили со стендовым докладом «Three-dimensional nanoscale optical vortex profilometry» («Трехмерная наноразмерная оптическая вихревая профилометрия»). Приглашающей стороной выступило профессиональное некоммерческое международное объединение учёных, инженеров и студентов в области оптики и фотоники SPIE.
«На конференции присутствовали участники из 139 стран. Мы посмотрели на других докладчиков, нам очень понравилось, что наш уровень не ниже, а даже во многих случаях и выше, – рассказал Полетаев. – Также мы представляли доклад о деятельности нашего конструкторского бюро. Это отдельная наша ячейка, которая действует в Физико-техническом институте. И, в частности, мы рекламировали то, что у нас есть на общественных началах такая организация, в которой мы рассказываем студентам, как делать большую науку, как ставить задачи и поэтапно их решать, потому что сразу профессорами не становятся – к этому надо готовиться».
В своем докладе ученые КФУ подняли теоретические вопросы применения оптических вихрей для проведения экспрессной неразрушающей диагностики полированных поверхностей.

Фото пресс-службы КФУ Симферополь, 7 сентября. Крыминформ. Сотрудники Физико-технического института (ФТИ) Крымского федерального университета имени В.И. Вернадского приняли участие в международной конференции Optics Photonics 2017, которая состоялась в Сан-Диего (штат Калифорния, США). Об этом сообщила пресс-служба КФУ со ссылкой на директора института Марину Глумову. По ее информации, доцент кафедры общей физики и главный конструктор студенческого конструкторского бюро ФТИ Богдан Соколенко и доцент кафедры радиофизики и электроники, руководитель студенческого конструкторского бюро физико-технического института Дмитрий Полетаев выступили со стендовым докладом «Three-dimensional nanoscale optical vortex profilometry» («Трехмерная наноразмерная оптическая вихревая профилометрия»). Приглашающей стороной выступило профессиональное некоммерческое международное объединение учёных, инженеров и студентов в области оптики и фотоники SPIE. «На конференции присутствовали участники из 139 стран. Мы посмотрели на других докладчиков, нам очень понравилось, что наш уровень не ниже, а даже во многих случаях и выше, – рассказал Полетаев. – Также мы представляли доклад о деятельности нашего конструкторского бюро. Это отдельная наша ячейка, которая действует в Физико-техническом институте. И, в частности, мы рекламировали то, что у нас есть на общественных началах такая организация, в которой мы рассказываем студентам, как делать большую науку, как ставить задачи и поэтапно их решать, потому что сразу профессорами не становятся – к этому надо готовиться». В своем докладе ученые КФУ подняли теоретические вопросы применения оптических вихрей для проведения экспрессной неразрушающей диагностики полированных поверхностей.